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SNJ54BCT8244AFK

Texas Instruments

型号:

SNJ54BCT8244AFK

封装:

28-LCCC (11.43x11.43)

批次:

-

数据手册:

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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUF

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产品信息

参数信息

用户指南

Operating Temperature -55°C ~ 125°C
Series 54BCT
Package / Case 28-CLCC
Logic Type Scan Test Device with Buffers
Mfr Texas Instruments
Supply Voltage 4.5V ~ 5.5V
Number of Bits 8
Package Tube
Mounting Type Surface Mount
Product Status Active
Supplier Device Package 28-LCCC (11.43x11.43)

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